2023年9月，苏州惟光探真科技有限公司正式推出其自主研发的晶圆级半导体少子寿命测试系统，该系统的问世，为半导体行业的检测与分析带来了全新的国产解决方案，尤其在提升半导体材料质量与性能检测的精度与效率方面，具有重要意义。

少子寿命是衡量半导体材料质量的关键参数之一，对半导体器件的性能和可靠性有着深远影响。惟光探真的半导体少子寿命测试系统，基于先进的技术架构，能够精准测量晶圆级半导体的少子寿命，为半导体制造企业、科研机构等提供了高效、准确的检测手段。

惟光探真团队依托自主知识产权的多项核心技术，包括激光辅助离焦量传感器、小型化科勒照明系统，以及高稳定性的系统集成设计、数据处理和软件算法等，成功开发出该测试系统。该系统不仅能够满足 Si 半导体材料的检测需求，对于第三代半导体材料如 SiC、GaN 等先进制程中的少子寿命测量难题，也提供了有效的解决方案。在面对第三代半导体材料和 MicroLED 新型器件先进制程中发光性质、应力和载流子浓度不均匀等问题时，该测试系统能够通过荧光和拉曼光谱相关技术，实现对材料缺陷和不均匀性的高灵敏度检测，为研发人员提供可靠的数据支持。

此外，该少子寿命测试系统在供应链方面具有显著优势，实现了国产稳定可控。这不仅保证了产品供应的稳定性，更以更高的性能、更好的应用服务和相对较低的价格，为半导体显微和光谱市场领域的国产替代注入了新的动力。

惟光探真科技有限公司总经理刘争晖表示：“我们致力于为半导体行业提供光电测试解决方案。此次推出的晶圆级半导体少子寿命测试系统，是我们团队多年技术积累与创新的成果。我们希望通过这一产品，助力半导体企业提升产品质量，推动行业技术进步。”

此次惟光探真推出的晶圆级半导体少子寿命测试系统，有望在半导体检测领域发挥重要作用，为行业的发展带来新的活力与机遇。