半导体生长与测量过程是在真空中进行,因此对于半导体生长与测量也可称为真空互联生长与测量系统。
真空互联生长与测量系统通常包括三大类子系统:1)生长系统:MBE,MOCVD,磁控溅射,ALD等,2)表面形貌与能谱检测:SPM,AFM,角分辨光电子能谱和俄歇扫描显微镜,3)光谱学检测:PL稳态与瞬态光谱,高低温系统,Raman光谱等。惟光探真研制的真空互联原位光谱测试工作站,主要用于半导体晶圆缺陷,应力,翘曲度,载流子浓度等相关光学参数原位检测。
为用户提供适配超高真空互联系统的多模组光谱测试系统,可在超高真空低温条件下,在同一真空腔体中实现如下功能:
. 样品表面进行高分辨显微成像。
. 共聚焦拉曼和荧光测试功能,并可在样品表面逐点扫描成像。
. 光谱范围195 nm ~ 1000 nm
. 兼容6吋样品。
. 极限真空可至10-8 Pa。
. 样品温度 4K至室温。
. FTIR光谱测量
. LIBS测量
. 真空装置与样品杆等附加装置