半导体测试 - 苏州惟光探真科技有限公司

起底自动对焦显微镜的技术路线异同和优劣势与适用场景

为什么惟光探真的Raman与PLMapping系统可以很精准地在生物，半导体和材料领域做3DMapping与精准的2DMapping，以至于哪怕是崎岖不平的样品也毫不畏惧？

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Raman光谱产品应用系列第四辑
SR900如何测试载流子浓度的呢?

各位真粉们，小薇又要和您见面啦。今天我们开启Raman光谱产品应用系列第四辑：SR900如何测试载流子浓度的呢？

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Raman光谱系列产品应用系列第二辑
SF900残余应力与载流子浓度测试应用与相关方法比对

各位真粉们，小薇又来了。本期正式开启Raman光谱应用第二辑，在SiC与GaN残余应力测试上的应用，并且与相关方法进行比对。先上结论：Raman光谱做载流子浓度与残余应力是一种值得信赖的好方法！再看测试数据。我们先来看一下样品未吸片自然翘曲状态下的应力测量情况。

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Raman光谱系列产品应用系列第一辑
SR900在SiC残余应力测试上的应用

各位真粉们，小薇又来了。本期正式开启Raman光谱应用第一辑，在SiC残余应力测试上的应用。如前所述，我们的SR900半导体晶圆应力与载流子浓度测试系统，拥有自动聚焦，软件分析，3D层析等多种核心技术护城河，那么，今天小薇就带您来看看SR900是如何应用在SiC的残余应力测试上的吧。

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荧光光谱系列产品应用系列第三辑
揭示SF900半导体晶圆少子寿命与缺陷测量系统的奥秘

连续二期的应用案例相信如惊鸿一瞥，希望给您留下了一点点的印象吧。上回书小薇和您说到，这些看起来不经意的测试结果，看起来简单，但是做起来很难，不论是自动对焦显微镜的算法，还是测试过程中遇到的各种困难与想不到的KnowHow，都是测试几十轮次之后的不断迭代才可以得到的。国内外用PLMapping方法测试缺陷与少子寿命的不少，但是其中的奥妙却不是谁都可以窥探的，就比如所采用的光斑大小所引起的干涉图案，以及刻蚀工艺到导致的峰位移动，都是需要不断深入讨论和优化的。

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SF900光致发光稳态与寿命光谱在晶圆级半导体上的应用
暨惟光探真荧光光谱系列产品应用系列第一辑

各位惟光的真粉们，经不住大家期待的小薇又要和您见面啦。这一期，我们分享的是，SF900光致发光稳态与寿命光谱在晶圆级半导体上的应用，这也是惟光探真荧光光谱系列产品应用合辑的第一辑，就如同大家所知道的，荧光光谱的应用实在是太广泛啦！各种不同的能隙的半导体材料GaN，AlN，AlGaN，ZnO，实在是应接不暇，钙钛矿材料体系，二维材料，生物标记等等，实在是数不胜数，那么我们苏州惟光探真作为一家创新的公司，就从最难但是也最热门的测试和您分享啦，希望得到您的点赞与好评哦，每一个点赞的真粉，都可以在后台留言获得我们的小礼物哦。

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