2023年12月，苏州惟光探真科技有限公司首次推出深紫外宽禁带半导体荧光测试系统，是行业内对于宽禁带半导体在200nm以下深紫外波段激发的首套光学检测设备，这一突破性的成果标志着在半导体检测技术领域迈出了重要一步。该系统凭借其卓越的性能和创新的设计，为半导体材料和器件的研发与生产提供了强有力的支持。

惟光探真长期致力于微米到纳米尺度的显微光学和光谱学量测技术的研究与应用。此次推出的深紫外宽禁带半导体荧光测试系统，集成了公司多项核心技术。它能够利用深紫外光激发宽禁带半导体材料，通过高灵敏度的荧光检测技术，准确分析材料的内部结构、杂质分布以及缺陷状态等关键信息。这种先进的检测手段，对于提升第三代半导体晶圆的质量控制和良率提升具有重要意义。

在系统设计上，惟光探真的研发团队充分考虑了实际应用中的需求。该测试系统具备高度自动化的操作流程，可大幅提高检测效率，降低人为误差。同时，其稳定的光学性能和准确的数据采集与分析功能，确保了测试结果的可靠性和重复性。这不仅有助于半导体企业在研发阶段加速新材料和新器件的开发进程，也能在生产环节实现更严格的质量把控。

在完成系统研发后，惟光探真迅速与相关客户达成合作，并顺利完成了系统的交付工作。客户对此次交付的深紫外宽禁带半导体荧光测试系统在半导体检测方面的应用前景寄予厚望。客户表示，深紫外宽禁带半导体荧光测试系统的引入，将为其在半导体材料研究和晶圆制造过程中的检测环节提供更高效、准确的解决方案，有助于提升产品竞争力。

此次深紫外宽禁带半导体荧光测试系统的推出与交付，是惟光探真在半导体检测领域持续创新的体现。未来，惟光探真将继续加大研发投入，不断完善产品性能，为半导体产业的发展提供更多先进的检测技术和解决方案，助力行业技术升级与创新发展。